是在滿足電路性能和芯片面積的要求下,采用可測試設(shè)計技術(shù)設(shè)計一個完全可測竹炭竹纖維的電路.以前,可測性設(shè)計是在邏輯綜合以后進(jìn)行,現(xiàn)在需要可測性設(shè)計與邏輯綜合盡早結(jié)合至一個自動設(shè)計方法中,以減少設(shè)計過程的重復(fù),降低費(fèi)用和盡快投放市場.目前,測試綜合工具有門級的和寄存器傳輸級的兩類.門級的工具較為成熟,一般適合于完全掃描式設(shè)計,寄存器傳輸級工具是最近才出現(xiàn)的,比較適合于內(nèi)建自測試邊界掃描式設(shè)計.不管是門級的,還是寄存器傳輸級的測試綜合,都在以綜合為基礎(chǔ)的設(shè)計方法中包含測試方法選擇,測試結(jié)構(gòu)插入,電路驗(yàn)證和測試程序準(zhǔn)備四個步驟.這些步驟的相對重要性因應(yīng)用而異.
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